Advances in Scanning Probe Microscopy

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Advances in Scanning Probe Microscopy

Advances in Scanning Probe Microscopy

Name: Advances in Scanning Probe Microscopy
ISBN: 9783642630842

Naruo Sasaki, Masaru Tsukada (auth.), Professor Toshio Sakurai, Professor Yousuke Watanabe (eds.)

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This book covers several of the most important topics of current interest in the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.

Kategorien:

Engineering

Jahr:

2000

Auflage:

Verlag:

Springer-Verlag Berlin Heidelberg

Sprache:

english

Seiten:

343

ISBN 10: